当センターでは、本年度第1回目及び第2回目の開放試験設備利用研修を下記の要領で計画しておりますので、この機会にご参加いただきますようご案内申し上げます。
第1回開放試験設備利用研修
【研修機器名】 分析走査型電子顕微鏡(JSM−6510A)
【日 時】 平成23年7月25日(月曜日)10時から16時30分
【場 所】 高知県立紙産業技術センター 会議室及び機器分析室2
【負 担 金】 一人 10,000円
【受講申込】 下記受講申請書にて申込み ライセンス取得者は受講申請書(ライセンス取得者用)にて申し込み
【募集人員】 5名程度まで
【申込期限】 平成23年7月20日(水曜日)
(※)本研修機器は、平成22年3月まで当センターに設置されていた元素分析用低真空走査型電子顕微鏡(日本電子株式会社製)の機器更新に伴い新規に導入されたものです。現在までに元素分析用低真空走査型電子顕微鏡(日本電子株式会社製)のライセンスを取得されている方は無料で研修に参加することができます。新しい機器の操作方法を習得するためにもぜひ参加をお願いいたします。
第2回開放試験設備利用研修
【研修機器名】 顕微FT−IR/島津フーリエ変換赤外分光光度計(本体:FTIR−8700、顕微:AIM−8800)
【日 時】 平成23年7月26日(火曜日)10時から16時30分
【場 所】 高知県立紙産業技術センター 会議室及び機器分析室2
【負 担 金】 一人 10,000円
【受講申込】 下記受講申請書にて申込み ライセンス取得者は受講申請書(ライセンス取得者用)にて申し込み
【募集人員】 5名程度まで
【申込期限】 平成23年7月20日(水曜日)
(※)第2回目の研修機器については、現在までに、顕微FT−IR(日本電子株式会社製)ライセンスを取得されている方は無料で研修に参加することができます。新しい機器の操作方法を習得するためにもぜひ参加をお願いいたします。
【問合せ先】 不織布・加工課 森澤
- 研修の申込みは郵送又はFAXでお願いいたします。FAXで申込みをされた方については、研修当日に申請書の原本を必ず提出してください。
- 研修負担金については、受講当日にお渡しする納付書での振り込みとなります。
開催案内・開催要領・研修規程・利用基準 [WORDファイル/42KB]
第1回分析走査型電子顕微鏡受講申請書 [WORDファイル/24KB]
第1回分析走査型電子顕微鏡受講申請書(ライセンス取得者用) [WORDファイル/23KB]
第2回顕微FT−IR/島津フーリエ変換赤外分光光度計受講申請書 [WORDファイル/24KB]
第2回顕微FT−IR/島津フーリエ変換赤外分光光度計受講申請書(ライセンス取得者用) [WORDファイル/23KB]