
図1 卓上走査電子顕微鏡
製品開発や不良の原因究明において、ミクロ観察、微小な元素分析ができる電子顕微鏡は欠かすことの出来ない装置です。観察可能な試料は、金属・セラミックス・樹脂・食品など多岐にわたり、操作も容易なため多くの業界で活用されております。
この装置は低真空での観察に特徴があり、生体試料の評価や前処理なしでの観察に有利です。また、装置更新により性能が向上し、光学カメラ像からの観察位置の決定などより使いやすくなりました。
<使用例>
・食品や化学製品、紙製品中などの品質管理のための異物解析
・金属、プラスチックなど部材の破損部評価による原因究明
・石灰や触媒、炭、木粉など開発品の凹凸や孔などの微小観察
・金属製品の結晶状態や黒鉛形状、不純物、欠陥、微量成分などの評価
| 使用料項目 | 卓上走査電子顕微鏡 |
|---|
機器の仕様
| メーカー | 株式会社日立ハイテク |
|---|---|
| 型式 | Miniscope TM4000PlusⅢ |
| スペック |
<基本性能> ◇エネルギー分散型X線分析装置◇ |
| 特記事項 |
この装置は競輪の補助を受けて導入しました。 |
| 導入年度 | 令和8年度 |
| 導入事業名等 | 公益財団法人JKA「公設工業試験研究所等における機械設備拡充補助事業」 |
お問い合わせは 資源環境課 まで

