この装置は競輪の補助を受けて導入しました。
図1 蛍光X線分析装置
・固体試料中の無機元素の定性、サブ%オーダーの定量分析ができる装置です。
・標準試料なしでの半定量分析（ファンダメンタルパラメーター法）が可能です。
・散乱線FP法により汚泥や焼却灰、ポリマー等軽元素ベースの分析がより正確に行えます。
・上面照射タイプのため粉体試料の分析に適しています。
・直接分析、加圧成形法、ガラスビード法（ビードサンプラ）が行えます。
・金属用の材料判定も可能です。
（分析試料例:バルク金属、粉末（石灰、灰、土など）、紙・布・フィルム、固体高分子など）
| 使用料項目 |
蛍光Ｘ線分析装置 |
|---|
機器の仕様
| メーカー | 株式会社リガク |
|---|---|
| 型式 | ZSX PrimusⅣ |
| スペック | 分光方式 波長分散方式WDX 照射方式 上面照射 走査型 X線出力 60kV,150mA(最大連続出力定格4kW) X線管電圧 20～60kV(1kV Step) X線管電流 2～150mA(1mA Step) X線管球 Rh（エンドウインドウ、薄窓型 定格4kW） 最大試料寸法 φ52mm×30mmH 測定径 φ35、30、20、10、3、1mm オートサンプラ 12試料まで スリット 高分解能S2、標準分解能S4、高感度用S8（超軽元素用） 検出器 シンチレーショナルカウンタSC（重元素用）、 プロポーショナルカウンタPC（軽元素用） 一次X線フィルタ Ni400（Rh-Kαの除去、Cd-Kα測定）、Ni40(Pb-Lα、As-Kαの測定)、 Al125(Ti、Cr、Co、Fe、Znの分析)、Al25（Rh-Lαの除去、Cd-Lαの測定） 試料回転機構 真空度安定化機構 |
| 特記事項 |
この装置は競輪の補助を受けて導入しました。 |
| 導入年度 | 令和3年度 |
| 導入事業名等 | 公益財団法人JKA「公設工業試験研究所等における機械設備拡充補助事業」 |
お問い合わせは 資源環境課 まで