この装置は競輪の補助を受けて導入しました。
天然鉱物の同定、工業製品の品質管理、製造工程での異物の同定などに迅速に対応できる。
当装置は、物質の結晶面間隔を測定することにより、その物質を同定し、結晶構造解析を行うものである。
当装置は、物質の結晶面間隔を測定することにより、その物質を同定し、結晶構造解析を行うものである。
使用例
試料の結晶相や化合物の定性・定量分析及び結晶状態(結晶子サイズ、残留応力など)の評価。
測定は集中法・平行法、反射法・透過法が可能で、小角散乱測定によるナノサイズの粒度分布測定に対応。
例)JIS A1481「建材製品中のアスベスト含有率測定方法」
使用料項目 | X線回折装置 |
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機器の仕様
メーカー | スペクトリス(株) |
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型式 | パナリティカル EMPYREANシステム |
スペック | 測定方法:水平θ-θ駆動 スキャン範囲(2θ):-111~168° X線管球:Cu1.8kW、Co1.8kW 検索用データベース:ICSD、ICDD PDF-2 検出器ピクセルサイズ:55×55µm 検出器:半導体検出器(0D、1Dモード)、PC検出器+モノクロメータ 平行ミラー、サンプルチェンジャー、スピナーステージ、フラットステージ、加熱ステージ、XYZステージ、CCDカメラ、マイクロビームマスク、モノキャピラリー |
特記事項 |
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導入年度 | H28 |
導入事業名等 | 公益財団法人JKA「公設工業試験研究所等における機械設備拡充補助事業」 |
お問い合わせは 資源環境課 まで